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  1. 30 理工学研究科・理工学部(含:旧鉱山・工学資源学部)
  2. 30C 本学関連学会刊行誌
  3. 30C2a International Journal of the Society of Materials Engineering for Resources
  4. Vol. 10 No. 2 (30C2a)

Interfacial Characteristics of Copper/Diffusion Barrier/Low DielectricConstant Material Systems at Elevated Temperatures

http://hdl.handle.net/10295/760
http://hdl.handle.net/10295/760
3be796f9-1caf-4a93-9e0c-106ed1f9b06a
名前 / ファイル ライセンス アクション
ijsmer10-2d.pdf ijsmer10-2d.pdf (905.8 kB)
Item type 学術雑誌論文 / Journal Article(1)
公開日 2008-04-01
タイトル
タイトル Interfacial Characteristics of Copper/Diffusion Barrier/Low DielectricConstant Material Systems at Elevated Temperatures
言語 en
言語
言語 eng
主題
言語 en
主題Scheme Other
主題 Low dielectricconstant
主題
言語 en
主題Scheme Other
主題 copper
主題
言語 en
主題Scheme Other
主題 diffusion barrier
主題
言語 en
主題Scheme Other
主題 integrated circuits
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
アクセス権
アクセス権 open access
アクセス権URI http://purl.org/coar/access_right/c_abf2
作成者 Chen, J. S.

× Chen, J. S.

en Chen, J. S.

Search repository
Jeng, J. S.

× Jeng, J. S.

en Jeng, J. S.

Search repository
Chang, C. C.

× Chang, C. C.

en Chang, C. C.

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内容記述
内容記述タイプ Abstract
内容記述 Thermal reactions of sputtered Cu films on the fluorinated silicon oxide (FSG) and organosilicate glass (OSG) layers, with and without TiN or TaN diffusion barrier, were investigated. The sheet resistance, surface morphology, phase formation and compositional depth profile of the mutilayer structures after vacuum annealing at 400 to 800 °C were examined. It is found that the sheet resistance values of allsamples decreased after annealing at 400 to 600 °C and increased after annealing at 700 or 800 °C. Without the barrierlayer, the increase of sheet resistance was accompanied with the dewetting of Cu films and the carbon outdiffusion for Cu/OSG sample or the Cu indiffusion of the Cu/FSG sample. When a TiN/Ti or a TaN/Ta barrier layer was interposed between Cu and the dielectriclayer, the degree of dewetting of Cu film was significantly reduced for both systems. The reaction characteristics of the two dielectric svstems uoon vacuum annealing, with and without the barrierlaver. are discussed.
言語 en
出版タイプ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
書誌情報 en : International Journal of the Society of Materials Engineering for Resources

巻 10, 号 2, p. 138-141, 発行日 2002-09-01
収録物識別子
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 13479725
収録物識別子
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA1095475X
出版者
出版者 The Society of Materilas Engineering for resources of Japan
言語 en
関連情報
関連タイプ isIdenticalTo
識別子タイプ DOI
関連識別子 https://doi.org/10.5188/ijsmer.10.138
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Ver.1 2023-07-25 10:46:36.505065
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